测试点设置方案生成方法及装置

授权

摘要

本发明实施例提供一种测试点设置方案生成方法及装置，该方法包括：根据每一故障点是否设置测试点，确定多个测试方案；根据各测试方案的故障测试相关性矩阵，确定对应的故障检测率和故障隔离率；选取总测试点数最少或小于预设点数，且故障检测率和故障隔离率分别大于对应预设阈值的测试方案；其中，所述故障测试相关性矩阵，根据测试方案构建的对角矩阵和故障传播矩阵的乘积得到；所述故障传播矩阵中的元素，表示对应序号的故障之间是否有传播关系。该方法无需凭借人工经验获得，具有客观性，保证测试效果的同时，测试点最少，有效减少测试性设计的工作量。此外，有利于测试方案的自动生成，且同时保证测试方案的有效性和客观性。

基本信息

专利标题：

测试点设置方案生成方法及装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111412795A

申请号：

CN202010182333.6

公开（公告）日：

2020-07-14

申请日：

2020-03-16

授权号：

CN111412795B

授权日：

2022-05-31

发明人：

秦玉峰史贤俊秦亮聂新华翟禹尧吕佳朋

申请人：

中国人民解放军海军航空大学

申请人地址：

山东省烟台市芝罘区二马路188号

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司

代理人：

王宇杨

优先权：

CN202010182333.6

主分类号：

F42B35/02

IPC分类号：

F42B35/02 F41A31/00 G06N3/00 G06N3/12