高频测试探针卡
授权
摘要

本实用新型涉及一种高频测试探针卡,包括PCB板和探针,所述探针包括本体和针尖,所述本体和针尖组成类“L”型结构,所述探针的本体通过导电胶粘连固定在PCB板上。本实用新型采用导电银胶将探针粘接固定在PCB板上,整体结构更为简单,探针针尖到PCB板的连接处的整体路径更短,提高了测试频率;无需陶瓷载体来固定探针,节省了陶瓷载体的制作成本及时间;直接用导电银胶将探针固定在PCB上,并直接起到了连接导通作用,省去了后续的焊接环节,提高了制作效率。

基本信息
专利标题 :
高频测试探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921177371.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-25
授权号 :
CN210514408U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
吴彦
申请人 :
苏州韬盛电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区唯文路18号
代理机构 :
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 :
尹均利
优先权 :
CN201921177371.1
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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