引脚测试探针结构
授权
摘要
本实用新型提供一种引脚测试探针结构，包括引脚测试探针和导电凸部，引脚测试探针包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小，导电凸部设置在第二端部的侧面上。较佳地，导电凸部为导电凸台，导电凸台的底面设置在第二端部的侧面上。导电凸部为耐磨导电凸部。导电凸部焊接在第二端部的侧面。安装部沿安装部的厚度方向设置有安装孔。本实用新型的引脚测试探针结构能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。
基本信息
专利标题 ：
引脚测试探针结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021280036.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-02
授权号 ：
CN212905256U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
何欢刘通邓勇泉夏淞
申请人 ：
上海泰睿思微电子有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区芦潮港路1758号1幢18641室
代理机构 ：
上海唯源专利代理有限公司
代理人 ：
汪家瀚
优先权 ：
CN202021280036.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/067
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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