新型测试探针
授权
摘要

本实用新型公开了一种新型测试探针,涉及无线测试装置技术领域。所述测试探针包括背板,所述背板的中部设置有天线通道,所述背板的正面固定有吸波材料层,天线固定在所述背板的背面,且天线的一端从所述背板的天线通道穿出后从所述吸波材料层的中间穿过,并探出吸波材料层顶端一段距离。所述探针具有全带内平坦度高、交叉极化隔离度低、驻波小等优点。

基本信息
专利标题 :
新型测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921371930.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-22
授权号 :
CN210894444U
授权日 :
2020-06-30
发明人 :
谢文青胡南刘建睿刘爽赵丽新袁昌勇
申请人 :
北京星英联微波科技有限责任公司
申请人地址 :
北京市海淀区农大南路1号硅谷亮城5号楼406室
代理机构 :
石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王占华
优先权 :
CN201921371930.2
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R29/10  H01Q13/02  H01Q17/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-06-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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