本实用新型公开了一种半导体测试探针，包括保护套和调节板，所述调节板位于保护套内，所述调节板中心处转动连接有转杆，所述转杆下端向下贯穿调节板固定连接有第一斜齿轮，且转杆上端向上贯穿保护套上侧壁设置，所述保护套上侧壁螺纹连接有调节螺栓，所述调节螺栓向下贯穿保护套上侧壁与调节板上侧壁转动连接，所述调节板下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套的一侧均转动连接有对应的丝杆，所述丝杆远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮啮合的第二斜齿轮，且丝杆上螺纹连接有对应的移动螺母。本实用新型操作简便，测试效率高，使用过后方便保存，避免空气中的灰尘污染探针，保证了探针能够二次正常使用。