本实用新型公开了一种半导体封装测试探针，属于测试探针技术领域，包括金属柱，所述金属柱外板面对称开设有防滑纹、花键，所述金属柱两端处设有球套，所述金属柱内固定设有内柱，金属柱外板面通过设置防滑纹能方便进行捏持安装，同时花键能实现安装高度和方向固定，从而实现快速安装，节省调试时间；探针柱沿连接柱的第一滑孔滑动，实现探针长度可调，然后紧固螺母套使上压块移动，带动导板滑进导槽内，而压柱压持第二弹簧于圆卡槽内，从而使下压块向下位移并实现单头探针的固定安装；双头探针和单头探针实现多种半导体的检测，同时单头探针在第二滑孔内安装位置可调，并能伸至探针柱内，从而对针头进行保护。