本实用新型公开了一种半导体测试用探针座，包括底座，所述底座通过卡接机构连接有探针座本体，所述探针座本体顶部固定连接有针杆，所述针杆顶部连接有针头，所述底座上设有降温机构，所述针头表面的底部固定连接有螺纹块，所述针杆顶端的表面开设有螺纹槽，所述螺纹槽内侧壁与螺纹块外侧壁螺纹连接，所述卡接机构包括两个对称的连接板，所述探针座本体两侧分别与连接板相对一侧固定连接，两个所述连接板均开设有限位槽，所述底座上开设有与限位槽相适配的连接槽。本实用新型通过连接槽、限位槽、活动块、收纳槽、伸缩杆以及复位弹簧的配合使用，实现了对探针座本体的快速安装拆卸，提高了装置的实用性。