晶体器件测试仪
专利权的视为放弃
摘要
用一只由场效应管做调整管的串连稳压器，使其输出电压取决于一只电容的充电电压：用灵敏可靠的电流检测开关去控制这只电容的充电，用可调恒流源做假负载兼限流器，便可以模拟多种晶体管参数测试条件。他们的科学结合组成的晶体管测试仪，具有效率高、精度好、通用性强、测试范围宽等特点，为电子工作者提供了一件得心应手的实用工具。
基本信息
专利标题 ：
晶体器件测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91204949.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-03-29
授权号 ：
CN2107664U
授权日 ：
1992-06-17
发明人 ：
马军兴
申请人 ：
马军兴
申请人地址 ：
内蒙古自治区霍林河矿区公共事业处
代理机构 ：
内蒙古哲里木盟专利事务所
代理人 ：
李学博
优先权 ：
CN91204949.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1993-10-06 ：
专利权的视为放弃
1992-06-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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