基于PocketLab的晶体管参数测试仪

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了基于PocketLab的晶体管参数测试仪，包括一块PCB电路板，上面集成了标准电阻插孔、待测元件插孔以及插针，插针可与PocketLab的功能引脚区和电源引脚区相连。测量晶体管参数时，将测试平台插在PocketLab上，配合PocketLab可以绘制晶体管参数曲线（BJT输入特性曲线、BJT输出特性曲线、BJT的放大倍数及MOS管等相关器件参数），并将主要参数测试以图像形式反馈到界面，同时提供相关的数据读取、数据修正、参数设置功能。该测试平台可用于日常晶体管参数测量，也可用于实验教学。

基本信息

专利标题：

基于PocketLab的晶体管参数测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920913514.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-18

授权号：

CN210572591U

授权日：

2020-05-19

发明人：

郑冉

申请人：

东南大学

申请人地址：

江苏省南京市玄武区四牌楼2号

代理机构：

南京众联专利代理有限公司

代理人：

张伟

优先权：

CN201920913514.4

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26