一种芯片测试的加电装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试的加电装置,包括底板和底座,所述底板的顶部与底座的底部固定连接,所述底座内壁的两侧之间转动连接有双向螺纹杆,且双向螺纹杆表面的两侧均螺纹连接有连接块,所述连接块的底部固定连接有固定连接有活动块,本实用新型涉及芯片测试技术领域。该芯片测试的加电装置,通过底座内壁的两侧之间转动连接有双向螺纹杆,便于自动对芯片进行加电测试,操作简单,测试时不需要人工操作,降低了危险度,使用更加安全,通过顶板底部的正面与背面均固定连接有液压油缸,液压油缸输出轴的一端固定连接有横板,便于对芯片进行定位,使得加电时稳定性更好,使各种耦合作业能准确进行,测试结果更加准确。
基本信息
专利标题 :
一种芯片测试的加电装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921605971.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-25
授权号 :
CN211061643U
授权日 :
2020-07-21
发明人 :
姚昌余全鹏菲
申请人 :
武汉奥亿特科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东西湖区长青办事处胜河路38号(7)
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
周琼
优先权 :
CN201921605971.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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