一种触控芯片电性测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种触控芯片电性测试装置,包括底座,所述底座的顶部固定连接有工作台,所述工作台的顶部固定连接有滑板,所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台,多个所述放置台的顶部放置有芯片,所述工作台上设有转动槽,所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮,所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴,两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮,两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条,本实用新型中,通过测试针做上下往复运动,移动板和推动杆自行输送芯片,全过程无需人工操作,既节省劳动力,又提高了工作效率,简单实用。
基本信息
专利标题 :
一种触控芯片电性测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021162443.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-22
授权号 :
CN213210353U
授权日 :
2021-05-14
发明人 :
李伟余荣
申请人 :
上海荣惠笛信息技术有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
代理机构 :
上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邢黎华
优先权 :
CN202021162443.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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