芯片测试装置

授权

摘要

本实用新型公开一种芯片测试装置，包括机台、送料机构、测试模块、转移机构、水平驱动机构及升降驱动机构，送料机构设有用于放置芯片的芯片容置位，芯片容置位内嵌设有用于吸附芯片的磁铁；转移机构安装在水平驱动机构和升降驱动机构的输出端，水平驱动机构用于驱动转移机构水平移动至送料机构或测试模块的上方；升降驱动机构用于在转移机构移动至送料机构的上方时驱动转移机构升降以获取位于芯片容置位的芯片和在转移机构移动至测试模块的上方时驱动转移机构升降以将芯片放至测试模块，测试模块用于测试芯片的性能。本实用新型实现了芯片的自动化测试；且芯片容置位内还嵌设有磁铁，通过磁铁的作用力实现了芯片位置的自动调正。

基本信息

专利标题：

芯片测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921398698.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-26

授权号：

CN211086513U

授权日：

2020-07-24

发明人：

熊凯文亚东辜诗涛张亦锋袁俊

申请人：

上海利扬创芯片测试有限公司

申请人地址：

上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

张艳美

优先权：

CN201921398698.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28