本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试装置，包括检测基架、放置板和检测单元，放置板通过弹性柱安装在检测基架上，放置板设有放置槽，放置槽底端开设有检测通道，检测通道对准芯片的所有触点，放置槽两侧活动设有多个定位块，检测单元包括上检测板和下检测板，下检测板位于放置板的下方，上检测板可升降地设置在放置板的上方，上检测板两侧设有压条，压条的底面连接有多个压块，压块对准放置板的两侧。本实用新型通过设有放置在上检测板和下检测板之间的放置板，放置板上的检测通道可以对应芯片上的所有触点，芯片的多个触点同时检测，节约人力，此外上压板可升降设置，为自动化检测提供实现基础，从而最终实现检测效率的提升。