一种芯片条多通道并发测试双测试台机构

授权

摘要

本实用新型公开了一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机。本实用新型，通过设计两个测试平台配合一个电性能测试机的设计，来双倍提高芯片条供料速度，保证电性能测试机测试板上面保持有芯片条在上面测试。从而避免单个测试平台在来回运转取送料的过程时，电性能测试机处于空闲等待状态，而影响整机测试速度。同时测试平台X轴和旋转轴都采用直驱线性马达达到次微米级精度，上下Z轴导向采用预压零间隙带衬套线性轴承，确保测试平台长久运行重复精度满足测试需求，无需定期校准。

基本信息

专利标题：

一种芯片条多通道并发测试双测试台机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922407235.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-28

授权号：

CN211718453U

授权日：

2020-10-20

发明人：

周建高周善威

申请人：

英诺创新科技（深圳）有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区公明街道上村社区下南第三工业区第七栋鑫安文化大厦7楼8708室

代理机构：

深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

陈映辉

优先权：

CN201922407235.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28