一种磁感芯片测试台
授权
摘要
本实用新型提供了一种磁感芯片测试台，包括底座，其特征在于，所述底座上固定有工作台，工作台上通过可拆卸的方式安装有用于磁感芯片导向的导向座，导向座上具有导槽，底座上设置有能使磁感芯片移动的驱动结构，底座上还固定有定位架，定位架中部和摆杆一端转动连接，摆杆另一端安装有放大镜，定位架上部和可弯曲的柔性杆一端相连，可柔性杆另一端和照明灯相连。本实用新型具有测试方便的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种磁感芯片测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021245906.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-30
授权号 ：
CN212514321U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
史科峰
申请人 ：
浙江亚芯微电子股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市海宁市浙江海宁经编产业园区沧平路197号
代理机构 ：
浙江永航联科专利代理有限公司
代理人 ：
俞培锋
优先权 ：
CN202021245906.7
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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