全自动芯片测试台
公开
摘要
本发明属于芯片检测技术领域，尤其为全自动芯片测试台，包括减震底座，所述减震底座的顶部设有升降送料机构和程控送料平台，所述减震底座的顶部设有在升降送料机构与程控送料平台之间转移芯片的四关节机械臂，所述减震底座上设有测试台架，所述测试台架处于程控送料平台的正上方，所述测试台架上设有对芯片进行电性检测的三轴程控探针组件以及视觉检测的CCD图像识别组件。本发明一体化程度更高，且在测试过程当中不会对芯片造成损坏，提高了芯片的批量检测效率。
基本信息
专利标题 ：
全自动芯片测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624479A
申请号 ：
CN202210242800.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金英杰刘强方高松梁志贤
申请人 ：
深圳市世坤科技实业有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区八卦岭城市主场公寓B座2116
代理机构 ：
深圳锴权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
鲍竹
优先权 ：
CN202210242800.9
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R1/073 G01R31/28 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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