全自动芯片推拉力测试机
授权
摘要
本实用新型公开了全自动芯片推拉力测试机,包括测试台和固定于测试台上表面的机架,所述机架上设置有推拉力测试组件;所述推拉力测试组件的正下方还设置有移动平台,所述移动平台包括底座、第一推拉件及第二推拉件,所述底座安装在测试台的上表面,所述第一推拉件设于底座上,所述底座和第一推拉件其中一个上设有第一滑轨,第一推拉件可沿第一滑轨方向相对底座移动;所述第二推拉件设于所述第一推拉件的上表面,所述第二推拉件和第一推拉件其中一个设有第二滑轨,第二推拉件可沿第二滑轨方向相对第一推拉件移动。本实用新型对芯片进行不同方向上的推拉力测试,提高测试的全面性。
基本信息
专利标题 :
全自动芯片推拉力测试机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921012794.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-01
授权号 :
CN210375930U
授权日 :
2020-04-21
发明人 :
蒋次为
申请人 :
成都汉芯国科集成技术有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)合作路89号
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
杨保刚
优先权 :
CN201921012794.8
主分类号 :
G01N3/02
IPC分类号 :
G01N3/02 G01N3/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
法律状态
2020-04-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN210375930U.PDF
PDF下载