全自动芯片推拉力测试机

授权

摘要

本实用新型公开了全自动芯片推拉力测试机，包括测试台和固定于测试台上表面的机架，所述机架上设置有推拉力测试组件；所述推拉力测试组件的正下方还设置有移动平台，所述移动平台包括底座、第一推拉件及第二推拉件，所述底座安装在测试台的上表面，所述第一推拉件设于底座上，所述底座和第一推拉件其中一个上设有第一滑轨，第一推拉件可沿第一滑轨方向相对底座移动；所述第二推拉件设于所述第一推拉件的上表面，所述第二推拉件和第一推拉件其中一个设有第二滑轨，第二推拉件可沿第二滑轨方向相对第一推拉件移动。本实用新型对芯片进行不同方向上的推拉力测试，提高测试的全面性。

基本信息

专利标题：

全自动芯片推拉力测试机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921012794.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-01

授权号：

CN210375930U

授权日：

2020-04-21

发明人：

蒋次为

申请人：

成都汉芯国科集成技术有限公司

申请人地址：

四川省成都市高新区(西区)合作路89号

代理机构：

成都弘毅天承知识产权代理有限公司

代理人：

杨保刚

优先权：

CN201921012794.8

主分类号：

G01N3/02

IPC分类号：

G01N3/02 G01N3/08