一种落地式全自动芯片推拉力测试机
授权
摘要
本实用新型公开了一种落地式全自动芯片推拉力测试机,包括落地式的测试台和固定于测试台上表面的机架,机架上设置有升降动力组件,所述升降动力组件包括升降滑轨,及设置在升降滑轨前侧并且能够上下滑动的升降架,所述升降架的前侧设置有推拉力计,所述推拉力计的下端设置有机械臂,所述机械臂下可拆卸安装有测试针头;还包括安装在测试台上表面的定位调节平台,所述定位调节平台的上表面中心位置设置有夹持件;所述夹持件上设置有与芯片载板匹配的安装槽,并在安装槽的底壁设置有通孔,所述夹持件内还设置有真空室。本实用新型夹持稳定,避免了载板在进行推拉力测试时晃动,便于芯片的推拉力测试,从而确保测试数据的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种落地式全自动芯片推拉力测试机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921012795.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-01
授权号 :
CN210166212U
授权日 :
2020-03-20
发明人 :
刘丽
申请人 :
成都汉芯国科集成技术有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)合作路89号
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
杨保刚
优先权 :
CN201921012795.2
主分类号 :
G01N3/02
IPC分类号 :
G01N3/02 G01N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
法律状态
2020-03-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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