指纹传感器芯片测试机构

授权

摘要

本实用新型提供一种指纹传感器芯片测试机构，其包括固定架、测试板、测试支架和驱动装置，固定架包括底座和连接架，连接架可滑动的连接在底座上，测试板连接在连接架上方，内部设置有腔室，腔室用于放置指纹传感器芯片，下侧设置有导向板，导向板上设置有多个导向孔，测试支架设置在测试板下方，包括连接杆和橡胶头，多个橡胶头连接在连接杆上方，橡胶头用于从导向孔伸入腔室给指纹传感器芯片测试，驱动装置设置在固定架一侧，连接测试支架，用于驱动测试支架移动给指纹传感器芯片测试。本实用新型的指纹传感器芯片测试机构一个橡胶头同时测试两个芯片，测试支架一次同时对同一纵向的芯片测试，测试效率高。

基本信息

专利标题：

指纹传感器芯片测试机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021692742.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-13

授权号：

CN212781114U

授权日：

2021-03-23

发明人：

李英才

申请人：

深圳市华宇福保半导体有限公司

申请人地址：

广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路25号利保义生物工程大楼六层B井,E井厂房

代理机构：

深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

李捷

优先权：

CN202021692742.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04