本实用新型旨在提供一种能够对焊盘小、间距小的芯片进行测试、测试针之间不会相互干扰且使用方便的微型芯片测试机构。本实用新型包括测试电路板、尾针板、基座、导向针块、下针块以及若干琴线针，所述测试电路板和所述基座均与所述尾针板固定连接，所述下针块与所述基座浮动连接，所述导向针块与所述下针块固定连接，若干所述琴线针的尾端均与所述测试电路板电性连接，若干所述琴线针均依次穿过所述尾针板、所述导向针块以及所述下针块，若干所述琴线针与所述尾针板固定连接，所述琴线针包括一体成型的针尖部、绝缘部以及球头尾部，所述绝缘部包括金属内芯和包覆在所述金属内芯上的绝缘层。本实用新型应用于微型芯片测试的技术领域。