一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置，属于芯片测试控制领域，本实用新型包括芯片，芯片的下端设有用于与分选机连接的芯片测试待接接口区，芯片的左侧设有用于与测试机连接的两个高性能测试机接口，芯片的右侧设有用于与待测试MT2008芯片连接的两个分选机接口，高性能测试机接口区与分选机接口区之间设有功能测试区，本实用新型布局合理，接口分散在芯片的周边，中间为各种测试区，方便MT2008芯片测试时候的接线，可同时测试两个MT2008芯片，降低了每个芯片的测试时间和成本。
基本信息
专利标题 ：
一种用于MT2008芯片测试的测试转接装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022243504.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
CN213457021U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
李卫国杨富征谭永良李嘉颖杨国健何启文黄炜庭谭威
申请人 ：
江门市华凯科技有限公司
申请人地址 ：
广东省江门市新会区会城镇城东区石家庄
代理机构 ：
广州蓝晟专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈梓赫
优先权 ：
CN202022243504.X
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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