本实用新型涉及芯片检测领域，具体涉及一种用于芯片测试的顶针，包括针管，针管的第一端设置针头套管，所述针头套管中滑动安装针头，所述针头的第一端从针头套管第一端伸出，且针头的第二端位于针管中；所述针管中设置有弹性体，弹性体顶在针头的第二端。本实用新型的优点在于：当针头受力收缩时，针头套管对其起到引导作用，进而减小针头的摆动幅度，以免影响测试结果，且其结构、原理较为简单。