一种用于芯片测试的测试设备
授权
摘要
本实用新型提供一种用于芯片测试的测试设备，包括主体结构；主体结构包括沿第一方向延伸的两个侧装配板；以及位于两个侧装配板之间的可沿第一方向往复运动的输送机构；输送机构被配置为可带动料板沿第一方向往复运动；测试设备还包括：可在第三方向上对料板进行压平定位的压平机构；压平机构包括驱动装置以及压接组件；压接组件包括压接件；压接件包括用以压接于料板上的平直部；压接件被配置为在驱动装置的驱动下可沿第三方向同步运动；压接组件所包括的平直部形成用以压平并定位料板的压接固定面。该测试设备可以消除料板的角部翘曲对取放芯片时的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片测试的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122782018.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216351083U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
杨胜利史赛
申请人 ：
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
王喆
优先权 ：
CN202122782018.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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