本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种用于芯片测试的设备，包括底座，底座的上端固定连接有倒“U”形的固定框，固定框内的中心处固定连接有电动推杆，电动推杆的输出端上固定连接有移动板，移动板的下端安装有检测板，底座的上端通过两个支撑板共同固定连接有承载板，承载板上安装有定位机构；定位机构包括固定连接在支撑板侧壁上的驱动电机，驱动电机的输出端固定连接有转动杆，转动杆通过两个轴承和两个支撑板之间转动连接，转动杆上套接有两个方向相反的螺杆，螺杆上螺纹连接有螺纹套，承载板上对应螺纹套的位置上开设有通道。本实用新型能够对芯片进行很好的定位，能够防止芯片偏移，为后续加工提供保障。