一种用于芯片测试设备的保护座
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片测试设备的保护座,包括芯片座,所述芯片座的侧表面靠近边缘位置活动安装有基座盖板,所述芯片座的内部靠近下方位置固定安装有芯片基座,所述芯片基座的上表面活动安装有芯片基板,所述芯片座上靠近基座盖板的一侧边缘位置固定安装有一号转轴套,所述基座盖板上靠近芯片座的一侧边缘位置固定安装有二号转轴套。本实用新型所述的一种用于芯片测试设备的保护座,能够固定测试芯片,减少测试时的晃动产生的接触不良,能够提高导电率,进而提高信号的传输效率,通过设置的回位弹簧可以保证引脚套筒与下引脚连通,同时减少对芯片引脚的损害,防止其弯折,能够活动安装芯片座与基座盖板,方便更换测试芯片。
基本信息
专利标题 :
一种用于芯片测试设备的保护座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022284321.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-14
授权号 :
CN213398654U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
赵晴吕相容
申请人 :
云中芯半导体技术(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道吴中大道1421号3幢越旺智慧谷C区506室
代理机构 :
深圳金伟创新专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐敏
优先权 :
CN202022284321.2
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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