芯片测试装置和设备

授权

摘要

本申请实施例公开了一种芯片测试装置和设备，涉及芯片测试技术。其中，该芯片测试装置包括芯片测试模组和信号集成模块，其中：芯片测试模组上设置测试数据接口；信号集成模块包括集成数据接口和网络通信单元；测试数据接口与集成数据接口连接；芯片测试模组，用于承载待测芯片，并将待测芯片的测试数据通过测试数据接口和集成数据接口传输至网络通信单元；网络通信单元，用于将测试数据传输至外部设备。本申请实施例可以减少芯片测试数据输出至外部设备过程中对引线的依赖，提高测试方案的可靠性。

基本信息

专利标题：

芯片测试装置和设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020583978.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-17

授权号：

CN212391573U

授权日：

2021-01-22

发明人：

王柳锋

申请人：

北京百度网讯科技有限公司

申请人地址：

北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

孟金喆

优先权：

CN202020583978.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28