用于芯片测试的固定装置
授权
摘要
本申请提供了一种用于芯片测试的固定装置，包括具有一安装面的测试板、用于吸附芯片的吸嘴以及用于驱动所述测试板作往复直线运动以使所述测试板的安装面靠近和远离所述吸嘴的第一驱动机构；所述测试板的安装面固定安装有弹性密封圈和用于测试芯片的探针，所述测试板的安装面还设置有位于所述弹性密封圈之内的吸气孔。本申请能够使芯片被牢固的固定在吸嘴上，使芯片在被测试的过程中不容易发生掉落，而且固定时间更短，提高了生产效率。
基本信息
专利标题 ：
用于芯片测试的固定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921888811.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-04
授权号 ：
CN211292977U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
杨坤宏陈绍锋何颖东
申请人 ：
深圳市三一联光智能设备股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区宝安大道与海城路交汇处劳动综合楼（德信商务中心）一至七楼（F7-22）
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
郑浩旋
优先权 ：
CN201921888811.4
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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