本实用新型公开了一种多引脚芯片测试装置，其特征在于，包括芯片、测试机和继电器，芯片包括多个引脚，引脚的数量大于十个，测试机包括十个测试通道，继电器的数量比所述芯片引脚的数量少九个；芯片的其中九个引脚分别和测试机的其中九个测试通道相连接，芯片剩余的若干个引脚分别和继电器相连接，测试机剩余的一个测试通道和若干个所述继电器相连接；若干个所述继电器还和继电器控制版及电源相连接。本申请设计的测试装置不更换原有的测试机，在测试机和芯片之间增加继电器，通过继电器控制版控制继电器进而完成芯片上所有引脚的测试，通过增加适量的继电器可一次性完成芯片所有引脚的测试，保证了测试效果和测试质量。