本实用新型公开了一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，包括测试装置和待测集成电路，测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，待测集成电路包括保护二极管，显示模块和模数转换器连接在微处理器的相应端口上，模拟复用器输入端与待测集成电路的PIN脚连接，模拟复用器输出端与模数转换器的输入端连接，解决了集成电路中每个管脚与VDD和GND都有保护二极管，且保护二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在集成电路上，会造成整个串列的烧坏，因此需要对集成电路进行测试的问题。