本实用新型公开了一种集成电路芯片测试装置，属于芯片测试装置技术领域，包括顶板、测试仪器、底座、摆动机构、清洁机构和控制机构，所述底座上表面的左右两侧均固定连接有电动推杆，电动推杆的顶端固定连接有顶板，顶板的上表面设置有测试仪器，所述底座的上表面卡接有第一轴承，第一轴承内套设有第一转轴；本实用新型中，通过设置清洁机构、电机和摆动机构，当需要对芯片进行测试时，先通过转动手轮，第一转轴从而带动固定板向左移动，进而清洁罩便能位于罩子上侧，且扇叶便能将芯片上的灰尘吸附在粘纸上，从而达到了对测试仪器和芯片上的灰尘和污渍进行清理的作用，避免了灰尘和污渍的存在导致接触短路和接触不良的问题。