一种多功能集成电路芯片测试机

授权

摘要

本实用新型公开了一种多功能集成电路芯片测试机，包括主支架、传送机构、测试机构、标记机构、治具以及CCD相机，所述传送机构用于将载有集成电路芯片的治具移动到测试工位，所述测试机构在测试工位对集成电路芯片进行检测，所述CCD相机用于识别所述治具的具体位置，所述标记机构包括驱动组件和激光打码装置，当检测到有不合格产品时，驱动组件根据CCD相机反馈的位置信息带动激光打码装置移动到相应位置，在所述治具的相应位置上的打标板上进行打码标记，方便对装载工位上的芯片进行分拣，避免分拣混乱。

基本信息

专利标题：

一种多功能集成电路芯片测试机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020585237.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-17

授权号：

CN212341374U

授权日：

2021-01-12

发明人：

黄辉

申请人：

深圳市芯片测试技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020585237.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28