一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法
公开
摘要
本发明提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状态，且该测试系统及其测试方法，操作方法简单易于实现，能够显著提高待测芯片的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563680A
申请号 ：
CN202011353002.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘静郭耀华陈凝欧阳睿邹欢李秀丽
申请人 ：
紫光同芯微电子有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区五道口王庄路1号同方科技广场D座西楼18层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011353002.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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