一种抗干扰测试系统
授权
摘要
本公开提供了一种抗干扰测试系统，包括主机模块、校准模块以及测试模块，主机模块包括：控制单元、信号发射单元、第一耦合单元、功率计单元、开关单元以及功率衰减单元；开关单元由控制单元控制开关单元的开断状态，当开关单元处于第一导通状态时，系统工作于校准模式，校准信号发射单元输出的干扰信号，功率计单元接收信号发射单元输出的干扰信号作用于校准模块的开路试验电压；当开关单元处于第二导通状态时，系统工作于测试模式，功率计单元接收信号发射单元输出的干扰信号，以监测信号发射单元是否正常工作。在提升传导骚扰抗扰度测试的检测效率的同时，提升检测结果的准确度，并且可以应对复杂场景下的传导骚扰抗扰度测试工作。
基本信息
专利标题 ：
一种抗干扰测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123152999.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216595345U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
袁迪王林东石磊
申请人 ：
北京科环世纪电磁兼容技术有限责任公司
申请人地址 ：
北京市昌平区北七家镇宏福大厦1104室
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
刘凤
优先权 ：
CN202123152999.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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