测试系统
授权
摘要
本申请提供了一种测试系统，该测试系统包括测试小车、对接模组、对中机构以及驱动机构。在执行测试时，当测试小车被AGV运输到测试工位后，利用对中机构自动调整测试小车和/或对接模组的位置，使得测试小车上的第一接线端子与对接模组上的第二接线端子对中；利用驱动机构推动对接模组上的第二接线端子与测试小车上的第一接线端子对接，完成对待测设备的自动测试。本申请提供的测试系统能够实现待测设备在带电测试区域无人化，降低操作人员的劳动强度，提高安全性。
基本信息
专利标题 ：
测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122241061.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-15
授权号 ：
CN216310143U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
陈剑刘益梁宇强徐斌星
申请人 ：
浙江海利普电子科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市海盐县武原镇新桥北路339号
代理机构 ：
北京布瑞知识产权代理有限公司
代理人 ：
张欣
优先权 ：
CN202122241061.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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