测试系统
授权
摘要
一种测试系统，包含：存储器测试电路、存储器、输入逻辑电路、旁通电路、输出逻辑电路及暂存器。暂存器运行为存储器测试电路及输出逻辑电路的管线暂存器。于第一测试模式，由存储器测试电路传送第一测试信号至存储器，以由存储器输出存储器输出测试信号至暂存器后进一步传送至存储器测试电路或输出逻辑电路进行测试。
基本信息
专利标题 ：
测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111667874A
申请号 ：
CN201910165686.2
公开（公告）日 ：
2020-09-15
申请日 ：
2019-03-05
授权号 ：
CN111667874B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
林士杰林盛霖
申请人 ：
瑞昱半导体股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市
代理机构 ：
隆天知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄艳
优先权 ：
CN201910165686.2
主分类号 ：
G11C29/10
IPC分类号 ：
G11C29/10 G11C29/48 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/10
测试算法，例如，存储扫描算法；测试码形，例如棋盘码形
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/10
申请日 : 20190305
申请日 : 20190305
2020-09-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
