测试系统
授权
摘要
本实用新型提供了测试系统，该测试系统包括：工控机、第一控制装置和测试用变频器；测试用变频器包括第二控制装置和测试用功率模块，工控机、第一控制装置和第二控制装置连接，测试用功率模块用于与待测变频器连接，工控机将待测变频器的模块型号发送给第一控制装置以及向第一控制装置发送测试指令；第一控制装置将根据模块型号确定出的控制指令发送给第二控制装置以及将对测试指令的解析结果发送给第二控制装置；第二控制装置根据控制指令，通过外部的控制电源向测试用功率模块供电，以及根据解析结果和确定出的测试用功率模块的工作状态，通过外部的工作电源向测试用功率模块供电。本实用新型提供的测试系统能够提高对待测变频器的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121163532.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-05-27
授权号 ：
CN216209497U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
管华明薛龙高永
申请人 ：
西门子工厂自动化工程有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥东路1号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202121163532.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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