测试装置及测试系统
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种测试装置及测试系统。该装置包括:电路属性输出模块、指令检测模块、信号检测模块以及控制器,控制器,用于控制电路属性输出模块输出预设值至卫星综合电子设备以使其反馈对比数值;指令检测模块,用于检测卫星综合电子设备向外部设备发出指令时对应的第一脉冲信号数据,将第一脉冲信号数据发送至控制器;信号检测模块,用于检测卫星综合电子设备发出信号时对应的第二脉冲信号数据,将第二脉冲信号数据发送至控制器;控制器,还用于若根据对比数值或第一脉冲信号数据或第二脉冲信号数据确定卫星综合电子设备存在故障,生成故障信息。本申请的装置,能够对卫星综合电子进行综合测试,无需人工分析测试数据,能够有效提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
测试装置及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325198A
申请号 :
CN202111682301.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
田胜金王政伟刘武刘勇黄思涔
申请人 :
浙江时空道宇科技有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路1782号1幢1505室
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202111682301.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211229
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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