测试装置及测试系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种测试装置及测试系统,包括:控制主板卡和多个点位扩展子板卡;其中,点位扩展子板卡与控制主板卡相连接,点位扩展子板卡上包括多个点位;控制主板卡用于在接收到携带有待测试电路的电路标识和待测试点位的点位标识的测试指令时,控制点位扩展子板卡连接电路标识对应的待测试电路,以及控制点位扩展子板卡上与点位标识对应的点位连通;控制主板卡还用于获取待测试电路的测试信号,并输出测试信号对应的测试结果。本实用新型可以在实现多路的开路短路测试的同时提高了测试速度,降低了测试系统的成本。

基本信息
专利标题 :
测试装置及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021820367.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN212905372U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
楚文超孙权俞桢凯万阿平
申请人 :
上海金东唐科技有限公司
申请人地址 :
上海市杨浦区长阳路2588号电力研究中心大楼602、603A室
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
安卫静
优先权 :
CN202021820367.5
主分类号 :
G01R31/52
IPC分类号 :
G01R31/52  G01R31/54  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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