一种测试装置及测试系统

授权

摘要

本申请公开了一种测试装置及测试系统，该测试装置包括：测试电路、供电电路、检测电路与处理电路，测试电路连接待测芯片与检测电路，处理电路连接检测电路，供电电路分别连接测试电路、检测电路和处理电路；处理电路控制供电电路经测试电路向待测芯片输出第一电压，测试电路对待测芯片在第一电压下进行系统测试；处理电路控制供电电路经检测电路向待测芯片输出第二电压以替换第一电压，测试电路对待测芯片在第二电压下进行系统测试，待测芯片在第二电压下进行电压拉偏极限测试，检测电路检测待测芯片的电气信号状态。本申请通过使用第二电压替换第一电压，实现在工作状态下的电压热替换，并便于对待测芯片进行系统测试的同时进行拉偏极限测试。

基本信息

专利标题：

一种测试装置及测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021791169.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-24

授权号：

CN212658792U

授权日：

2021-03-05

发明人：

王树锋陈阳

申请人：

前海晶云（深圳）存储技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

黎坚怡

优先权：

CN202021791169.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/52 G01R19/165 G01R1/04 G01R1/28