本实用新型提供一种测试系统，包括一反应室、一测试板以及一控制板。反应室具有可调整的一温度与一湿度。测试板置放于反应室中，用以测试设置于其上的一芯片。控制板耦接至测试板以及反应室，用以产生多个调整信号与一控制信号。其中，当进行一测试时，控制板依序输出每一调整信号至反应室，以调整反应室的温度与湿度，并且输出控制信号以控制芯片的一工作模式。本实用新型所提供的测试系统，可完全测试芯片在各种温度、湿度环境下与各种模式中的测试结果，对于产品的可靠度可大幅地提高，也可提高产品的品质。