测试装置及测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种测试装置,包括架体、固定轴及探头;架体包括分别用于固定柔性器件两端的第一支架及第二支架,且第二支架能够相对于第一支架绕一定轴转动;固定轴设置于第一支架和第二支架中的一者,第二支架转动时能够带动柔性器件围绕固定轴做往复弯折;探头布设于固定轴的表面,并用于实时测量柔性器件的电阻。上述测试装置中,探头能够直接在柔性器件弯折时接触弯折部位并测量电阻,同时还能够保证探头不影响柔性器件的弯折,测量过程简单,测量结果稳定;并且,探头还能够做到实时检测柔性器件弯折部位的电阻,从而提高测量结果的准确性。
基本信息
专利标题 :
测试装置及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123199699.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-18
授权号 :
CN216646134U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
岳玉莹孙明迁何志峰金熌吴耀媛潘磊磊
申请人 :
浙江清华柔性电子技术研究院
申请人地址 :
浙江省嘉兴市南湖区浙江清华长三角研究院B座15层
代理机构 :
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 :
孙洁轩
优先权 :
CN202123199699.3
主分类号 :
G01N3/20
IPC分类号 :
G01N3/20 G01N3/02 G01N3/04 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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