测试装置和测试系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种测试装置和测试系统,测试装置包括多个第一继电器、多个第二继电器、第一接口、第二接口和第三接口;第二接口包括多个连接端子;多个第一继电器的第一端均与第一接口连接;多个第一继电器的第二端与第二接口的多个连接端子一一对应连接;多个第二继电器的第一端均与第三接口连接;多个第二继电器的第二端与第二接口的多个连接端子一一对应连接;所述第二接口的多个连接端子用于连接所述待测产品的多个待测引脚;通过控制多个第一继电器和多个第二继电器的导通或关断,即可测试待测产品任意两个引脚之间的阻抗,从而提高了待测产品的功能安全性。

基本信息
专利标题 :
测试装置和测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922233357.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-12
授权号 :
CN211697979U
授权日 :
2020-10-16
发明人 :
施赛健朱列铭姜辛牛胜福
申请人 :
上海元城汽车技术有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区嘉定工业区叶城路912号JT3422室
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
谢玲
优先权 :
CN201922233357.5
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-10-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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