测试装置、测试系统及测试系统的操作方法
公开
摘要
提供了一种测试装置、测试系统及测试系统的操作方法。所述测试装置被配置为对执行脉冲幅度调制(PAM)操作的接口通信的被测装置(DUT)进行测试，所述测试装置包括：逻辑生成/确定装置，被配置为生成对应于测试模式的多个位；第一驱动器和第二驱动器，被配置为分别根据所述多个位当中的第一位和第二位的逻辑状态生成第一不归零(NRZ)信号和第二NRZ信号，并分别经由第一通道和第二通道输出所生成的第一NRZ信号和第二NRZ信号。所述第一NRZ信号根据所述第一位的所述逻辑状态具有第一高电平或第一低电平，并且所述第二NRZ信号根据所述第二位的所述逻辑状态具有第二高电平或第二低电平。所述第一高电平和所述第二高电平彼此不同。
基本信息
专利标题 ：
测试装置、测试系统及测试系统的操作方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595101A
申请号 ：
CN202111433362.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张熊镇张成权金容正朴洙龙
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京市立方律师事务所
代理人 ：
李娜
优先权 ：
CN202111433362.6
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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