测试系统

授权

摘要

本发明披露一种测试系统，包括双线性极化天线、相位延迟器、分功器与高频讯号收发机。双线性极化天线将有关待测物的水平极化路径与垂直极化路径的圆形极化无线电波分成一第一高频讯号与一第二高频讯号，相位延迟器将第一高频讯号的相位延迟90度而形成一具相位延迟90度的第一高频讯号，且分功器接收或合成具相位延迟90度的第一高频讯号与第二高频讯号。同时，高频讯号收发机量测具相位延迟90度的第一高频讯号与第二高频讯号的功率，以判断待测物的水平极化路径与垂直极化路径的状态。借此，本发明能加快待测物的量测速度。

基本信息

专利标题：

测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111726174A

申请号：

CN201910256105.6

公开（公告）日：

2020-09-29

申请日：

2019-04-01

授权号：

CN111726174B

授权日：

2022-05-13

发明人：

方柏翔陈冠达卢盈维赖佳助谢承财

申请人：

矽品精密工业股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台中市潭子区大丰路三段123号

代理机构：

北京戈程知识产权代理有限公司

代理人：

程伟

优先权：

CN201910256105.6

主分类号：

H04B17/15

IPC分类号：

H04B17/15 H04B17/29