测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种测试系统，测试系统包括：信号源模块，与待测件连接，用于为待测件提供功率信号；温度采集模块，与待测件连接，用于对待测件在功率信号下的温度进行监测。本实用新型的测试系统通过使用信号源模块和温度采集模块测试待测件的温升系数，将信号源模块和温度采集模块分别与待测件连接，通过信号源模块用于为待测件提供功率信号，通过温度采集模块用于对待测件在功率信号下的温度进行监测，以快速获得材料在高功率条件下的温升系数，为研究人员提供高效便捷直观的试验结果，并且帮助加快电子器件的研发进程，帮助研发人员研究温度对器件的寿命和可靠性的影响。
基本信息
专利标题 ：
测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122713463.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-08
授权号 ：
CN216645400U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
陈泽坚洪瑛旭杨颖周亮何骁蒋攀攀
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
史治法
优先权 ：
CN202122713463.0
主分类号 ：
G01D11/00
IPC分类号 ：
G01D11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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