本发明提供一种芯片内干扰测试方法，其包括步骤：搭建测试环境，将第一低噪声放大器的输入端连接至第一元器件的的第一端，第一低噪声放大器的输出端连接至矢量网络分析仪的第二探测通道端口；并将第二低噪声放大器的输入端连接至矢量网络分析仪的第一探测通道端口，第二低噪声放大器的输出端连接至另一个第二元器件的第一端；控制设备的信号控制输出端连接至待测芯片的信号控制输入端；供电并启动工作；获得干扰波形图像，通过控制设备将第一低噪声放大器和第二低噪声放大器同时打开，将S21参数波形在矢量网络分析仪上显示。本发明实施例还提供一种芯片内干扰测试系统。与相关技术相比，采用本发明的技术方案的易于操作且测试效率高。