适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置

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摘要

本实用新型提供了适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置。所述电源干扰测试装置包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，数字集成电路测试仪包括可编程电源和数字通道，其中，可编程电源连接外围驱动电路，可编程电源连接数字通道，数字通道连接外围驱动电路，数字通道连接外部大容量SIM卡芯片的芯片测试管脚。本实用新型的电源干扰测试装置中，可编程电源向外围驱动电路提供工作电源，数字通道产生高频方波，并将高频方波输出到外围驱动电路的输入端，外围驱动电路产生高频扰动电源到达外部大容量SIM卡芯片的电源端，能够保证大容量SIM卡芯片在各种应用环境中的电源干扰，结构简单，成本低廉，操作性强。

基本信息

专利标题：

适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922120641.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-02

授权号：

CN211577334U

授权日：

2020-09-25

发明人：

陈凝马文远李凯亮

申请人：

北京紫光青藤微系统有限公司

申请人地址：

北京市海淀区五道口王庄路1号清华同方科技大厦D座西楼15层

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922120641.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28