一种集成电路芯片测试接口板
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路芯片测试接口板，包括固定座，还包括：扣板，所述扣板可拆卸的扣合在所述固定座的顶端；限位机构，所述限位机构分别设置在所述固定座和扣板的前侧和右侧；限位柱，若干个所述限位柱分别沿上下方向固定安装在所述固定座内腔的左侧和中部位置；接口板主体，所述接口板主体沿水平方向可拆卸的套接在若干个所述限位柱的外侧，且位于所述固定座的内腔中；卡动机构，所述卡动机构设置在所述扣板前后两侧的内腔中。该集成电路芯片测试接口板，能够对接口板主体的防护性能较强，便于对接口板主体拿取和移动，同时提供有多种丰富的测试接口，保证测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路芯片测试接口板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022486688.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-02
授权号 ：
CN214225332U
授权日 ：
2021-09-17
发明人 ：
张月梅
申请人 ：
成都赛莫斯科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府五街200号1号楼A区4楼
代理机构 ：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李倩倩
优先权 ：
CN202022486688.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-09-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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