本实用新型公开了一种集成电路芯片批量测试设备，包括设备平台和测试设备本体，所述测试设备本体安装在设备平台的顶侧上，测试设备本体的一侧设有控制屏和开关按钮，所述测试设备本体的一侧开设有传送口，传送口内活动安装有传送板，第一批量测试槽上的集成电路芯片将会被检测完，将会输送至设备平台的另一侧，第二批量测试槽在进行检测的过程中，工作人员能够将第一批量测试槽内的集成电路芯片取出，再次放上需要被检测的集成电路芯片，等待第二批量测试槽上的集成电路芯片检查结束后，来回往复移动，能够批量的对集成电路芯片进行检测，能够边检测，边进行取放集成电路芯片，节省了放料的时间，提高了测试速度。