一种热电堆芯片批量测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种热电堆芯片批量测试装置,包括电压信号采集模块、信号处理模块、显示模块以及供电模块,电压信号采集模块包括多路切换电路、ADC采样电路以及分压电路,多路切换电路的输入端分别与多个热电堆芯片的TP正极、TP负极、NTC正极以及接地脚电连接,多路切换电路的输出端分别与ADC采样电路的输入端以及分压电路的输入端电连接,ADC采样电路的输出端以及分压电路的输出端均与信号处理模块的输入端电连接,信号处理模块的输出端与显示模块的输入端电连接,供电模块分别与电压信号采集模块、信号处理模块以及显示模块电连接。本实用新型可以提高热电堆芯片测试的效率,进一步保证了热电堆产品测试的质量。
基本信息
专利标题 :
一种热电堆芯片批量测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021120719.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-16
授权号 :
CN212321757U
授权日 :
2021-01-08
发明人 :
夏贤冲严江荣颜天宝
申请人 :
佛山市川东磁电股份有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市高明区杨和镇沧江工业园和顺路372号
代理机构 :
佛山信智汇知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
郭文娟
优先权 :
CN202021120719.6
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01 G01R31/28 G01J5/14
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-01-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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